CCD-I型平面光栅电弧直读发射光谱仪获国家三项专利
发布时间：2016-01-07
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作者：湖北省地质实验测试中心 来源：湖北省地质实验测试中心
近日获悉，由测试中心自主研发的CCD-I型平面光栅电弧直读发射光谱仪，被国家授权专利三项（专利号：ZL201520236947.2、ZL201520235385.X、ZL201520236831.9），另有一项进入实审中（CN104914075A）。
该项技术处于国际领先水平，在发射光谱分析中具有里程碑的意义，具有分辨率高、背景低、线性范围宽、检出限低、准确度好、分析速度快、稳定性好等特点。自今年在全国20多个省、市、自治区实验室进行推广后，已销售70多台，实现了较好的经济效益与社会效益。
鄂公网安备 42010402000799号